BS EN 60749-17-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.中子辐照

作者:标准资料网 时间:2024-05-21 19:21:27  浏览:8351   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Neutronirradiation
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.中子辐照
【标准号】:BSEN60749-17-2003
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2003-06-19
【实施或试行日期】:2003-06-19
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:气候试验;电气工程;破坏试验;试验;半导体;集成电路;中子射线;气候;辐射效应;环境试验;半导体器件;电学测量;电子工程;机械试验;电子设备及元件;元部件
【英文主题词】:
【摘要】:Theneutronirradiationtestisperformedtodeterminethesusceptibilityofsemiconductordevicestodegradationintheneutronenvironment.Thetestsdescribedhereinareapplicabletointegratedcircuitsanddiscretesemiconductordevices.Thistestisintendedformilitary-andspace-relatedapplications.Itisadestructivetest.Theobjectivesofthetestareasfollows:a)todetectandmeasurethedegradationofcriticalsemiconductordeviceparametersasafunctionofneutronfluence,andb)todetermineifspecifiedsemiconductordeviceparametersarewithinspecifiedlimitsafterexposuretoaspecifiedlevelofneutronfluence(seeClause4).
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:10P;A4
【正文语种】:英语